Boguski, J.; Wróbel, J.; Złotnik, S.; Budner, B.; Liszewska, M.; Kubiszyn, Łukasz; Michałowski, P. P.; Ciura, Łukasz; Moszczyński, P.; Odrzywolski, S. Multi-Technique Characterisation of InAs-on-GaAs Wafers With Circular Defect Pattern. Opto-Electron. Rev. 2026, e144564.